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Aehr Test Systems proporciona sistemas de prueba para el burn-in y la verificación de circuitos integrados de lógica, ópticos y de memoria a nivel mundial. Ofrece productos como las familias ABTS y FOX-P de sistemas de prueba y burn-in, así como FOX WaferPak Aligner, FOX-XP WaferPak Contactor, FOX DiePak Carrier y FOX DiePak Loader. El sistema ABTS se utiliza en pruebas de producción y calificación de componentes empaquetados para dispositivos lógicos de menor y mayor potencia, así como para varios tipos comunes de dispositivos de memoria. Los sistemas FOX-XP y FOX-NP son sistemas de prueba y burn-in de contacto de wafer y die/módulo singulado, utilizados para burn-in y pruebas funcionales de dispositivos complejos, como memorias, procesadores de señales digitales, microprocesadores, microcontroladores, sistemas en chip y dispositivos ópticos integrados. El sistema FOX-CP es una solución compacta de prueba y verificación de confiabilidad de un solo wafer para dispositivos lógicos, de memoria y fotónicos. El WaferPak Contactor contiene una tarjeta de prueba de wafer completo capaz de probar wafers de hasta 300mm, lo que permite a los fabricantes de circuitos integrados realizar pruebas y burn-in de wafers completos en los sistemas FOX de Aehr Test. El DiePak Carrier es un paquete temporal reutilizable que permite a los fabricantes de circuitos integrados realizar pruebas finales y burn-in de die y módulos sin empaquetar. Aehr Test Systems fue constituida en 1977 y tiene su sede en Fremont, California.

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por José Manuel Peña
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