Acciones de Aehr Test Systems

Aehr Test Systems

Aehr Test Systems, fundada en 1977 y con sede en Fremont, California, se especializa en la provisión global de sistemas avanzados de burn-in y prueba para circuitos integrados, que abarcan dispositivos lógicos, ópticos y de memoria. Su extensa línea de productos incluye las familias ABTS y FOX-P de soluciones de prueba y burn-in, complementadas con componentes especializados como el FOX WaferPak Aligner, el FOX-XP WaferPak Contactor, el FOX DiePak Carrier y el FOX DiePak Loader. El sistema ABTS está diseñado específicamente para evaluaciones de producción y calificación de componentes empaquetados, cubriendo una variedad de dispositivos lógicos de menor y mayor potencia, así como diversos tipos de memoria. Para circuitos integrados más complejos, como memorias, procesadores de señales digitales, microprocesadores, microcontroladores, sistemas en un chip y dispositivos ópticos integrados, los sistemas FOX-XP y FOX-NP facilitan el burn-in y las pruebas funcionales tanto a nivel de wafer como de die/módulo individual. El sistema FOX-CP de Aehr ofrece una solución compacta de wafer único para verificar la confiabilidad de dispositivos lógicos, de memoria y fotónicos. El WaferPak Contactor, una propuesta diferencial, cuenta con una tarjeta de prueba exclusiva de wafer completo que admite wafers de hasta 300 mm, lo que permite a los fabricantes de semiconductores realizar pruebas exhaustivas a nivel de wafer y burn-in en las plataformas FOX de Aehr. Además, el DiePak Carrier proporciona un medio de empaque temporal y reutilizable, que permite a los fabricantes de circuitos integrados completar los procesos de prueba final y burn-in para die y módulos sin empaquetar.

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